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菲希爾X射線FISCHERSCOPE X-RAY XDL230的詳細資料：
| 品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥/生物制藥,綜合 |
菲希爾X射線FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
?? 突破性檢測技術(shù)來襲！FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 測厚儀，以微米級精度重新定義工業(yè)質(zhì)檢標準！?
? 閃電測量
? 多層鍍膜無損分析
? 航空航天/電子/汽車全領(lǐng)域適配
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希爾X射線鍍層測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。FISCHERSCOPE X-RAY XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了FISCHER基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。XDL 230特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
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